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Microscope Delphi pour l'examen métallurgique des matériaux

 

Une technologie de pointe pour des applications exigeantes en science des matériaux. Le design ergonomique et les excellents objectifs modernes font du Delphi-X Observer le microscope idéal pour les applications exigeantes en science des matériaux. Le champ de vision de 25 mm des oculaires et les objectifs planapochromatiques permettent des observations avec un rendu parfait des couleurs et une haute résolution. Le Delphi-X Observer™ est livré en standard avec les objectifs planapochromatiques BD 5x/0,15 BD 20 mm, 10x/0,30 WD 11 mm et 20x/0,45 WD 3,1 mm ainsi que les objectifs planapochromatiques BD 50x/0,80 WD 1 mm et 100x/0,90 WD 1 mm avec correction à l'infini pour le champ clair/champ sombre.

Le système EIS (Extended Infinity System) du Delphi-X Observer™ se compose d'oculaires SFWF super grand angle (10x/25 mm), d'objectifs parfocaux à grande ouverture numérique (45 mm) et d'un objectif tubulaire de 200 mm de focale. L'objectif tubulaire de 200 mm de distance focale réduit l'angle des rayons lumineux qui traversent l'optique. Il en résulte une nette amélioration de la correction des aberrations chromatiques et du contraste. Les lentilles de plus grand diamètre ont une ouverture numérique beaucoup plus élevée, ce qui améliore le pouvoir de résolution global du système optique. Avec toutes ces caractéristiques, le Delphi-X Observer™ offre des performances optiques exceptionnelles pour les applications les plus exigeantes.

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