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Cellcheck CIL-XY-Z: microscopio metalúrgico móvil para mediciones precisas en 2D y en profundidad

Número de artículo: CIL-XY-Z-PE
€8.975,00 *

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Para mediciones de profundidad de alta precisión: El Cellcheck CIL-XY-Z como microscopio metalúrgico móvil con calibre de profundidad de 0,001 mm y objetivos magnéticos intercambiables

Disponible (1) (Tiempo de entrega:1 - 2 días laborables)


Cellcheck CIL-XY-Z: La ayuda ideal para mediciones de profundidad. El reloj comparador digital mide la distancia entre dos planos focales para determinar sin contacto la profundidad de taladro en placas de circuitos impresos o la profundidad de celda en rodillos anilox y cilindros de huecograbado. Para minimizar la profundidad de campo como posible fuente de error, la medición debe realizarse con un aumento muy elevado. Por ello, el volumen de suministro del sistema de medición incluye objetivos con un aumento de aprox. 900x y 1350x. El aumento se refiere a la visualización en un monitor de PC de al menos 17" La cámara USB 2.0 con 2.592 x 1.944 píxeles (5 MP) proporciona imágenes de alta calidad que pueden competir con los principales microscopios metalúrgicos. El volumen de suministro incluye también objetivos con aumentos de 200x, 320x y 475x, un maletín de transporte, así como un disco de calibración de 0,1 mm con protocolo DAkkS y el software de medición Metric.

El accionamiento prácticamente sin holgura permite un enfoque preciso de los planos focales. Importante para un resultado de medición óptimo: enfoque siempre los planos focales superior e inferior desde el mismo lado. Sólo así se garantiza que no se produzcan imprecisiones en la medición. La iluminación coaxial directamente a través del objetivo desempeña aquí un papel importante. Sólo así es posible reconocer con precisión los planos focales. La palanca de enfoque puede desplazarse lateralmente para un ajuste rápido. El trípode garantiza un soporte seguro al medir la profundidad en rollos o material plano. El ajuste X e Y sin holgura de cinco milímetros permite avanzar entre los planos focales con grandes aumentos si éstos ya no pueden detectarse en el campo visual.

La imagen que se muestra aquí de un rodillo anilox (rodillo de trama) de impresión flexográfica muestra el tipo de imágenes que se pueden conseguir con un objetivo 20x (aprox. 900 aumentos). El sistema se coloca primero por encima del punto focal superior. A continuación, se enfoca hacia abajo, eliminando la holgura restante. En cuanto se alcanza el plano focal superior, se puede poner a cero el reloj comparador y continuar enfocando hasta el segundo plano focal (fondo del vaso). A continuación, el valor medido se lee en el reloj o se transfiere al protocolo Excel mediante un cable de transferencia de datos y una interfaz opcionales. La ventaja de este método es que el valor del medidor de profundidad también se muestra en la máscara Métrica o, si se utiliza la interfaz, ni siquiera es necesario tocar el reloj comparador.

El software Metric PE o Metric MT está disponible para la medición y la documentación. Con Cellcheck CIL-XY-Z, las imágenes pueden guardarse fácilmente o los resultados de las imágenes y las mediciones pueden documentarse en Excel o PDF. El software puede instalarse en cualquier número de ordenadores y se activa mediante un dongle para que el sistema pueda ser utilizado por varias personas. El software de medición se calibra utilizando el disco de calibración suministrado con una graduación de 0,1 mm y un protocolo DAkkS. Tras la calibración, el software de medición crea automáticamente un protocolo de calibración que, junto con el protocolo DAkkS del disco de calibración, permite una trazabilidad fiable a los estándares nacionales.

Con el Cellcheck CIL-XY-Z, obtendrá un potente sistema de medición para mediciones de profundidad precisas que puede integrarse perfectamente en su sistema de gestión de equipos de medición y ofrece resultados precisos y fiables.

Ejemplos de aplicación: Impresión: Comprobación de rodillos de gofrado, planchas de impresión de polímeros, rodillos anilox, cilindros de huecograbado, clichés. Vidrio y silicio: Pruebas de obleas de película fina y silicio en fotovoltaica.

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