Módulo DIC: Contraste de Interferência Diferencial. Com a nova conceção do módulo DIC, a visualização das diferenças de altura que normalmente não podem ser visualizadas com técnicas de campo claro foi significativamente melhorada. Todas as objectivas concebidas para luz reflectida com correção infinita são suficientes para a gama micro. Ao utilizar DIC com luz reflectida, a geometria da superfície pode frequentemente ser interpretada como uma verdadeira representação tridimensional. Permite uma distinção clara entre áreas elevadas e deprimidas na amostra. Estas imagens em relevo são ideais para a inspeção da superfície de bolachas, ecrãs LCD, etc.