Escala padrão com graduação de 0,1 mm em branco

Escala # 3 em preto

Estágio de deslizamento transversal com um curso de 100 x 100 mm para posicionamento de amostras em microscópios e acessórios com placa de inserção de vidro para aplicação sob luz

Lente plano-convexa 183x72,2 mm 2,5 dioptrias feitas de vidro óptico, moído e polido - rectangular

Lente Biconvex Ø 90,0 mm 4,0 dioptrias feitas de vidro óptico, moídas e polidas

Lupa de medição de PEAK telecêntrica 1999 com ampliação de 7x, focalizável e escala de 0,1 mm com um comprimento de medição de 20 mm

Iluminação com adaptador

Adaptador para montagem de um microscópio ES-2008 num sistema de medição de comprimento ES

Placas redondas adesivas

Para instalação nos seus próprios aparelhos e sistemas Microscópios USB 3.0 T-ILC-3 com iluminação coaxial e objetiva 3x

Estão disponíveis duas objectivas adicionais com ampliações de aprox. 600x e 900x (relacionadas com o monitor de 17") para os microscópios da série Cellcheck

Dispositivo de retenção para TZM-N

Objectivas de substituição para os microscópios de centragem Titan da série CS com ampliações ópticas de 1x, 2x, 5x, 10x e 20x

Vidro de protecção especial BK-40 para os sistemas de zoom telecêntrico manual e motorizado TZM

Cabo USB 3.0 de alta qualidade para câmaras USB 3.0 com ficha recta de 3 metros de comprimento e aparafusável

Placa de vidro de substituição redonda para mesa de medição transversal MT-50