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Delphi Mikroskop für die metallurgische Materialprüfung

 

Modernste Technik für anspruchsvolle materialwissenschaftliche Anwendungen. Das ergonomische Design und die hervorragenden modernen Objektive machen den Delphi-X Observer zum idealen Mikroskop für fortgeschrittene Materialanwendungen. Das 25 mm Sichtfeld der Okulare und die planapochromatischen Objektive ermöglichen Beobachtungen mit perfekter Farbwiedergabe bei hohem Auflösungsvermögen. Der Delphi-X Observer™ wird standardmäßig mit Plan Semi-Apochromatic BD 5x/0,15 BD 20 mm, 10x/0,30 WD 11 mm und 20x/0,45 WD 3,1 mm Plan Apochromatic BD 50x/0,80 WD 1 mm, 100x/0,90 WD 1 mm Objektive mit Unendlich-Korrektur für Hellfeld/Dunkelfeld geliefert.

Das erweiterte Infinity System (EIS) des Delphi-X Observer™ besteht aus Superweitwinkel-SFWF-Okularen (10x/25 mm), parfokalen Objektiven mit hoher numerischer Apertur (45 mm) und einem Tubusobjektiv mit 200 mm Brennweite. Die Tubuslinse mit 200 mm Brennweite verringert den Winkel der Lichtstrahlen, die durch die Optik laufen. Dies führt zu einer deutlichen Verbesserung der Korrekturen für chromatische Aberrationen und des Kontrasts. Die Linsen mit dem größeren Durchmesser weisen eine wesentlich höhere numerische Apertur auf, was das Auflösungsvermögen des optischen Systems insgesamt verbessert. Mit all diesen Merkmalen bietet der Delphi-X Observer™ eine hervorragende optische Leistung für anspruchsvolle Anwendungen

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