Anwendungsbereiche:

Das Stabmikroskop SM wird direkt auf das zu prüfende Objekt aufgesetzt. Die Einsatzmöglichkeiten dieses kleinen Präzisionsinstruments sind nahezu unbegrenzt.Das Grundmodell mit 80-facher Vergrößerung kommt in der grafischen Industrie (Rasterpunktprüfung), in der Elektronikindustrie (Leiterplattenfertigung) und in der Textilindustrie (Fadenzählung) zum Einsatz, ebenso wie in vielen anderen Bereichen der Materialprüfung.

Konstruktion:

Die Fokussierung erfolgt über ein höhenverstellbares Tubusrohr mit Rändelhülse, der Standfuß verfügt über eine integrierte Batterielampe. Die Mineralglasplatte im Fuß ist auswechselbar.

Zubehör:

• Aufbewahrungskoffer
• Batterielampe mit LED

Messskalen: Wir bitten um Beachtung, dass die Skala bei dem 25-fachen und 50-fachen Modell im Okular und bei dem 80-fachen und 100-fachen Modell im Standfuß verbaut ist. Achtung: Die Mikroskope mit 80-facher und 100-facher Vergrößerung und Strichplatte im Standfuß sind nur auf weichen, nichtmetallischen Oberflächen einsetzbar, da die Skalen sonst sofort verkratzen würden!

Technische Daten:

• 25-fache Vergrößerung: Messbereich 4 mm - 1 Teilstrich = 0,04 mm
• 50-fache Vergrößerung: Messbereich 2 mm - 1 Teilstrich = 0,02 mm
• 80-fache Vergrösserung: Messbereich 2 mm - 1 Teilstrich = 0,01 mm
• 100-fache Vergrösserung: Messbereich 1 mm - 1 Teilstrich = 0,01 mm

Model SM25
Okular: WF10XL/M
Objektiv: OP1-A03
Bildfeld: 6 mm
Messbereich: 4 mm
Teilung: 0.04 mm

Model SM50
Okular: WF10XL/M
Objektiv: OP1-A06
Bildfeld: 3 mm
Messbereich Teilung: 2 mm
Teilung: 0,02 mm

Model SM80
SMD80 + SM1 Okular: WF15XL
Objektiv: OP1-A06
Bildfeld: 3,1 mm Strichplatte im Fuß*
Messbereich: 2 mm
Teilung: 0,01 mm

Model SM100
SMD100 + SM1 Okular: WF20XL
Objektiv: OP1-A06
Bildfeld: 1,7 mm Strichplatte im Fuß*
Messbereich: 1 mm
Teilung 0,01 mm